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導(dǎo)致晶振托盤(pán)損壞的因素

       什么因素會(huì)損壞晶振托盤(pán),原因如下:
  1、在生產(chǎn)過(guò)程中有摔落現(xiàn)象,因?yàn)榫鄬?duì)較薄,外界的過(guò)度沖擊力會(huì)造成損傷,需要輕拿輕放。
  2、產(chǎn)品焊接與電路板連接時(shí),焊接溫度過(guò)高,可能導(dǎo)致產(chǎn)品不良。
  3、焊接過(guò)程中產(chǎn)生假焊,即假焊,使產(chǎn)品不帶電。
  4、產(chǎn)品焊接后,晶振托盤(pán)焊料與線路連接,產(chǎn)生短路現(xiàn)象。
  5、在檢漏過(guò)程中,即在酒精壓力環(huán)境下,產(chǎn)品容易接觸到殼體,即晶片和殼體在發(fā)生振動(dòng)時(shí)容易接觸,從而晶體容易發(fā)生時(shí)振時(shí)不振或停。
  6、在晶振托盤(pán)密封時(shí),產(chǎn)品中需要真空充氮,如果晶體密封不好,在酒精壓力下,它的特點(diǎn)是泄漏,稱為雙重泄漏,也會(huì)導(dǎo)致關(guān)閉。
2022/01/18 09:56:19 1643 次

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